현재위치 : Home > 제품소개 > 검사/분석용 현미경 > 직립형 현미경 > L200A
  


주요특징
- 4”/6”/8” wafer 검사가 가능한 현미경
- 주요 샘플에 대한 관찰조건 program화 저장/실행 옵션 기능
- 선명한 이미지, 높은 해상도, High Contrast의 CFI60 광학계를 채용
- 명시야(BF), 암시야(DF), 편광(POL), 미분간섭(DIC) 관찰 가능
- 디지털 카메라와 CCD카메라를 연결할 수 있어 이미지를 저장, 편집, 분석, 측정에 유용하며 모니터를 통해 동시 관찰 가능
- wafer, 전자부품, 금속부품과 같은 다양한 측정물 검사에 이상적

모든 기능을 리모트컨트롤로 조작이 가능하며 작업자에 따라 작업환경을 메모리 하여
사용자가 바뀔때마다 일일이 새로 설정할 필요가 없으며
LCD창을 통해 현재 상황을 모니터 할 수 있는 완전 자동화된 현미경입니다.

6개의 대물렌즈가 장착되는 전동식 Nosepiece는 배율 변환시에 조금의 틀어짐 없이
항상 중앙으로 맞춰주어 배율 변환 후 별도의 수동조작이 필요가 없습니다.
제품이미지