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반사조명 전용(L200),투과/반사 동시 조명(L200D) 현미경 |
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4”/6”/8” wafer 검사가 가능한 현미경 |
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자동 Nosepiece로 대물렌즈 배율 변경 |
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선명한 이미지, 높은 해상도, 고 Contrast의 CFI60 광학계를 채용 |
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명시야, 암시야, POL, DIC 관찰모드 |
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디지털 카메라와 CCD카메라를 연결할 수 있어 이미지를 저장, 편집, 분석, 측정에 유용하며 모니터를
통해 동시 관찰 가능 |
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FPD(LCD, PDP, OLED, Film 등), wafer, 전자부품, 금속부품과 같은 다양한
측정물 검사에 이상적 |
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Stage moving handle과 초점 조절 나사가 같은 위치에 있어서
초점 조절과 Sample이동을 손쉽게 할 수 있으며
작업 시간을 단축해 줄 수 있습니다.
본체에 장착된 Focusing target 레버를 밀어 넣는 것 만으로
초점 맞추기가 어려운 Sample도 고배율에서 손쉽게 맞출 수 있습니다.
이전의 니콘 모델과 다르게 관찰시 누의 위치와 현미경 본체의 조작부의 이상적인 배치로
작업자의 피로를 덜어주고 작업 효율을 높여 줍니다.
새로 개발된 대물렌즈는 긴 작업거리와 높은 개구수를 가지며
이로 인해 고배율에서도 뚜렸한 이미지를 관찰 할 수 있습니다. |
주요특징
