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반사조명 전용 현미경 |
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4”, 5”, 6” wafer 검사가 가능한 현미경 |
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자동 Nosepiece로 대물렌즈 배율 변경(LV150A) |
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최대 82mm높이의 Sample 관찰 가능 |
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명시야(BF), 암시야(DF), 편광(POL), 미분간섭(DIC), 형광(FL)관찰 가능 |
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디지털 카메라와 CCD카메라를 연결할 수 있어 이미지를 저장,편집,분석,측정에 유용하며 모니터를
통해 동시 관찰 가능 |
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Wafer, 전자부품, 금속부품, LCD표면, PCB, 플라스틱과 같은 다양한 Sample 검사에
이상적 |
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주요특징
